壹、掃描(miao)型(xing)紫外(wai)可(ke)見分光光度(du)計(ji)產品介(jie)紹
根(gen)據設(she)置(zhi)波(bo)長自(zi)動(dong)保(bao)存*新(xin)波(bo)長與普通同(tong)類(lei)產(chan)品(pin)相(xiang)比(bi)增加了測量(liang)的穩(wen)定性(xing)，可(ke)測量(liang)光程(cheng)為100毫(hao)米全面(mian)的控制(zhi)紫外(wai)燈(deng)和鎢(wu)燈(deng)光功能，根據標準模式(shi)或輸(shu)入標準建(jian)立(li)定(ding)量(liang)分析(xi)方(fang)式(shi)能夠(gou)保(bao)存50組(zu)數據記錄，以及(ji)多達10條(tiao)校(xiao)準曲線可(ke)選擇(ze)安裝與電(dian)腦連(lian)接(jie)的軟件裝(zhuang)置(zhi)。
二、掃描(miao)型(xing)紫外(wai)可(ke)見分光光度(du)計(ji)日常維(wei)護(hu)
要(yao)懂得(de)分析(xi)儀(yi)器(qi)的日常(chang)維護(hu)和對(dui)主要(yao)技術指(zhi)標的簡易(yi)測試方法，經常對(dui)儀器(qi)進(jin)行(xing)維(wei)護(hu)和測試，以保(bao)證儀器(qi)工(gong)作(zuo)在較好狀態(tai)。
溫度和濕(shi)度(du)是影(ying)響(xiang)儀(yi)器(qi)性(xing)能的重(zhong)要(yao)因素。他們(men)可(ke)以引起(qi)機(ji)械(xie)部(bu)件的銹蝕，使(shi)金(jin)屬(shu)鏡面(mian)的光潔(jie)度下(xia)降，引起(qi)儀(yi)器(qi)機(ji)械(xie)部(bu)分的誤差或性能下(xia)降;造成(cheng)光學(xue)部件如(ru)光(guang)柵、反(fan)射鏡、聚(ju)焦鏡等(deng)的鋁膜銹蝕，產(chan)生(sheng)光能不足、雜(za)散光(guang)、噪(zao)聲(sheng)等(deng)，甚(shen)至儀器停(ting)止(zhi)工(gong)作(zuo)，從(cong)而(er)影(ying)響(xiang)儀(yi)器(qi)壽(shou)命。維護(hu)保(bao)養時應(ying)定期(qi)加以(yi)校(xiao)正。應(ying)具(ju)備(bei)四季恒(heng)濕(shi)的儀器(qi)室，配置恒(heng)溫設(she)備(bei)，特別是地(di)處南(nan)方(fang)地(di)區的實驗室(shi)。
環(huan)境(jing)中(zhong)的塵埃(ai)和腐蝕性(xing)氣(qi)體也(ye)會(hui)影(ying)響(xiang)機(ji)械(xie)系(xi)統的靈活(huo)性、降低(di)各(ge)種限位(wei)開關、按(an)鍵、光(guang)電(dian)偶合器(qi)的可(ke)靠性，也是造成(cheng)必須(xu)學(xue)部件鋁膜銹蝕的原因之壹(yi)。因此必須(xu)定期(qi)清(qing)潔，保(bao)障環(huan)境(jing)和儀器室內衛生條(tiao)件，防(fang)塵等(deng)。
儀器(qi)使用壹(yi)定(ding)周(zhou)期(qi)後(hou)，內部會(hui)積(ji)累壹定(ding)量(liang)的塵埃(ai)，由維(wei)修(xiu)工(gong)程(cheng)師(shi)或(huo)在工(gong)程(cheng)師(shi)指(zhi)導下(xia)定期(qi)開啟儀(yi)器外(wai)罩對(dui)內部(bu)進(jin)行(xing)除塵工(gong)作(zuo)，同(tong)時將(jiang)各(ge)發(fa)熱(re)元(yuan)件的散熱(re)器重(zhong)新緊(jin)固(gu)，對(dui)光學(xue)盒的密封(feng)窗口(kou)進(jin)行(xing)清(qing)潔，必要(yao)時對(dui)光路(lu)進(jin)行(xing)校(xiao)準，對(dui)機(ji)械(xie)部(bu)分進(jin)行(xing)清(qing)潔和必要(yao)的潤(run)滑(hua)，後(hou)，恢復原(yuan)狀，再進(jin)行(xing)壹(yi)些(xie)必要(yao)的檢測、調校與記錄。