壹、植(zhi)物冠(guan)層(ceng)分(fen)析儀*產(chan)品(pin)參數
鏡(jing)頭角度(du)：150°(特(te)殊(shu)需(xu)求可(ke)自選(xuan)180°鏡(jing)頭)
分(fen)辨率(lv)：768×494pix
測(ce)量(liang)範(fan)圍(wei)：天(tian)頂角由0°～75°（可(ke)分(fen)割成(cheng)十個區(qu)域）；方位角360°（可(ke)分(fen)割 十個區(qu)域）
PAR感應範(fan)圍(wei)：感(gan)應光(guang)譜400nm～ 700nm
測量(liang)範圍(wei)：0～2000μmol/㎡•S
電(dian) 源：7.4V鋰電池組(zu)
傳(chuan)輸接口(kou)：USB
工(gong)作溫度(du)：0～55℃
二、植(zhi)物(wu)冠(guan)層(ceng)分(fen)析儀*使用(yong)
1：采用(yong)了(le)冠(guan)層(ceng)孔(kong)隙(xi)率(lv)與(yu)冠(guan)層(ceng)結(jie)構(gou)相(xiang)關(guan)的原(yuan)理。它是(shi)根(gen)據光(guang)線穿(chuan)過(guo)介(jie)質(zhi)減弱(ruo)的比(bi)爾定(ding)律，在對植物(wu)冠(guan)層(ceng)定(ding)義(yi)了(le)壹(yi)系列假(jia)設前(qian)提的條件下，采用(yong)半理論半經驗的公式，通(tong)過(guo)冠(guan)層(ceng)孔(kong)隙(xi)率(lv)的測定，計算(suan)出(chu)冠(guan)層(ceng)結(jie)構(gou)參數。采用(yong)的是(shi)對冠(guan)層(ceng)下(xia)天(tian)穹半球(qiu)圖(tu)像(xiang)分(fen)析測(ce)量冠(guan)層(ceng)孔(kong)隙(xi)率(lv)的方法(fa)。
2：1.非破壞性地測定冠(guan)層(ceng)結(jie)構(gou)2.可(ke)以測(ce)量冠(guan)層(ceng)內(nei)外(wai)的光(guang)合有效輻(fu)射(she)(PAR)3.手持式萬向(xiang)接(jie)頭自動(dong)水(shui)平調(tiao)整(zheng)探(tan)頭，4.隨(sui)身(shen)攜帶的筆記(ji)本計算(suan)機(ji)可(ke)以幫(bang)助(zhu)妳(ni)正(zheng)確(que)選點取(qu)樣(yang)，即時(shi)決(jue)定圖(tu)像(xiang)的取(qu)舍(she)5.由計算(suan)機(ji)電(dian)池提(ti)供電源極其(qi)輕(qing)便、便於觀測，尤(you)其(qi)適(shi)合完成(cheng)野(ye)外繁重(zhong)的觀測任務(wu)6. 圖(tu)像(xiang)分(fen)析軟(ruan)件可(ke)以任意(yi)定義(yi)圖(tu)像(xiang)分(fen)析區(qu)域(天(tian)頂角可(ke)分(fen)10區(qu)，方位角可(ke)分(fen)10區(qu))。對不同(tong)方(fang)向的冠(guan)層(ceng)進(jin)行區(qu)域性分(fen)析時(shi)，可(ke)以任意(yi)屏(ping)蔽地物景像和(he)不合理的冠(guan)層(ceng)部(bu)分(fen)(如缺(que)株(zhu)、邊(bian)行(xing)問題等)。對不同(tong)天(tian)頂角起始角和終(zhong)止(zhi)角的選擇(ze)，可(ke)以避(bi)開不符合計算(suan)該冠(guan)層(ceng)結(jie)構(gou)參數的冠(guan)層(ceng)孔(kong)隙(xi)條件 7.通(tong)過(guo)USB接(jie)口(kou)直(zhi)接將測點(dian)圖(tu)像(xiang)顯(xian)示(shi)在計(ji)算(suan)機(ji)上(shang)，可(ke)以在野(ye)外即時(shi)觀(guan)察(cha)圖(tu)像(xiang)，選(xuan)擇(ze)合理的測點，將圖(tu)像(xiang)存貯(zhu)。8.半球(qiu)圖(tu)象(xiang)上(shang)可(ke)以設計任何(he)地點、任何(he)時(shi)間(jian)的太陽視運動(dong)軌跡(ji)，以及冠(guan)層(ceng)內(nei)任意(yi)時(shi)刻(ke)的受光(guang)狀(zhuang)況。