壹(yi)、聚(ju)創(chuang)環保金(jin)相顯微鏡產(chan)品簡介
金(jin)相顯微鏡電子目(mu)鏡(jing)是壹種針對金(jin)相顯微鏡成像專門(men)研制(zhi)而(er)成的(de)光學(xue)電(dian)子儀(yi)器(qi)。該系(xi)列金(jin)相顯微鏡電子目(mu)鏡(jing)作為(wei)壹(yi)款(kuan)新型(xing)光(guang)電(dian)裝置，傳(chuan)輸(shu)接口(kou)為(wei)USB2.0高(gao)速(su)接口(kou)，金(jin)相顯微鏡電子目(mu)鏡(jing)采(cai)用1/2″CMOS大面陣圖像傳感(gan)器及(ji)大口徑光學(xue)鏡(jing)頭，使(shi)獲(huo)取的(de)圖像具(ju)有(you)*的(de)清晰(xi)度;單幅照相影像更佳。分(fen)辨(bian)率可(ke)達(da)130-300萬像素，並可以方便地應(ying)用於(yu)任何(he)標準生物(wu)顯微鏡、體(ti)視顯微鏡及(ji)望遠鏡中。從而(er)給觀察、教學(xue)、科(ke)研、臨(lin)床、家(jia)庭(ting)帶來了(le)極(ji)大的(de)快捷(jie)和便利(li)。
金(jin)相顯微鏡電子目(mu)鏡(jing)是壹種針對普通光(guang)學(xue)顯微鏡通用(yong)目(mu)鏡筒而(er)開發的(de)壹種(zhong)能(neng)替代人眼觀察視野，將(jiang)鏡下(xia)圖像真實(shi)反(fan)映在(zai)電子圖像顯示及(ji)輸出設備(bei)上的(de)光電(dian)設備(bei)，從而(er)實(shi)現(xian)了圖像時(shi)時(shi)共(gong)享，資料數字(zi)化、電子存(cun)檔(dang)化。
金(jin)相顯微鏡電子目(mu)鏡(jing)采(cai)用高(gao)分(fen)辨(bian)率圖像傳感(gan)器、光(guang)學(xue)部(bu)分(fen)由國(guo)家光(guang)學(xue)重(zhong)點實(shi)驗室(shi)設計，性能(neng)優(you)異、體(ti)積(ji)小巧(qiao)，更適合(he)教(jiao)師(shi)教(jiao)學(xue)和裝備(bei)數字(zi)化實(shi)驗室(shi)。
二(er)、聚(ju)創(chuang)環保金(jin)相顯微鏡產(chan)品檢(jian)測標(biao)準
人們經常(chang)接觸(chu)的(de)是壹(yi)般(ban)普通金(jin)相顯微鏡，它主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)測量(liang)金(jin)屬(shu)表(biao)機(ji)金(jin)相組織(zhi)的(de)測試(shi)，用途比(bi)較(jiao)廣(guang)泛，對企(qi)業，冶(ye)金(jin)等(deng)部(bu)門(men)起(qi)著(zhe)實(shi)驗，研究(jiu)*的(de)重要(yao)作用(yong)。生產(chan)金(jin)相顯微鏡廠家比(bi)較(jiao)多(duo)，型(xing)號(hao)，規(gui)格(ge)又(you)不(bu)統壹(yi)，所(suo)以對金(jin)相顯微鏡檢測至今尚(shang)無國(guo)家(jia)、地方、部門(men)檢(jian)定規程，因此，我們依據國家標(biao)準(zhun)對其(qi)進行(xing)檢測。
折疊物(wu)鏡轉(zhuan)換器(qi)定位誤差
檢(jian)具(ju):
(1)10倍十字目(mu)鏡(jing)。
(2)分(fen)劃(hua)值(zhi)為(wei)0.01mm的(de)分(fen)劃(hua)尺(chi)，其(qi)任意(yi)兩劃(hua)線(xian)間的(de)極限(xian)偏(pian)差為(wei)±0.005mm。
檢(jian)測(ce)方法(fa):在被(bei)檢(jian)金(jin)相顯微鏡的(de)轉(zhuan)換器(qi)上裝40倍物鏡，目(mu)鏡(jing)筒內放10倍十字目(mu)鏡(jing)，對置於(yu)載(zai)物(wu)臺(tai)上(shang)的(de)0.01mm分(fen)劃(hua)尺(chi)調焦清晰(xi)，使(shi)分(fen)劃(hua)尺(chi)上某(mou)壹(yi)分(fen)劃(hua)與目(mu)鏡中十(shi)字劃(hua)中心(xin)重(zhong)合(he)，然(ran)後轉(zhuan)動物(wu)鏡轉(zhuan)換器(qi)向左(zuo)，右(you)多(duo)次定(ding)位(wei)(不(bu)少於(yu)3 次)，觀察0.01mm分(fen)劃(hua)尺(chi)像的(de)偏移(yi)，以大偏移值作為(wei)檢(jian)測(ce)值。
技術要(yao)求(qiu):不(bu)大於(yu)0.02 mm。
折疊換(huan)物鏡(jing)偏(pian)差
檢(jian)具(ju):
(1)10倍十字分(fen)劃(hua)目(mu)鏡。
(2)二(er)字(zi)分(fen)劃(hua)板(ban)。
檢測(ce)方法(fa):用10倍十字分(fen)劃(hua)目(mu)鏡和各(ge)放(fang)大率物(wu)鏡(jing)在被(bei)檢(jian)顯微鏡上進行(xing)檢(jian)測(ce)，以偏(pian)的(de)大值作為(wei)檢(jian)測(ce)值。
技術要(yao)求(qiu):由(you)10倍物鏡轉(zhuan)換至其(qi)它放(fang)大率物(wu)鏡(jing)時(shi)均(jun)不(bu)越出視場。
折疊載(zai)物(wu)臺(tai)旋(xuan)轉(zhuan)中心(xin)偏(pian)移
檢具(ju):
(1)10倍十字分(fen)劃(hua)目(mu)鏡。
(2)二(er)字(zi)分(fen)劃(hua)板(ban)。
檢測(ce)方法(fa):在被(bei)檢(jian)金(jin)相量(liang)微鏡(jing)上用(yong)10倍十字分(fen)劃(hua)目(mu)鏡和10倍物鏡對置於(yu)載(zai)物(wu)臺(tai)上(shang)的(de)十字(zi)分(fen)劃(hua)板(ban)調焦清晰(xi)，在轉(zhuan)動載(zai)物(wu)臺(tai)的(de)同時(shi)移(yi)動十(shi)字(zi)分(fen)劃(hua)板(ban)，使(shi)十(shi)字(zi)線(xian)中心(xin)的(de)像趨向於(yu)小的(de)圓(yuan)，以小圓(yuan)的(de)直徑(jing)作為(wei)檢(jian)測(ce)值。
技術要(yao)求(qiu):顯微鏡*次像的(de)中心(xin)，大偏移不(bu)大於(yu)0.2mm。
折疊目(mu)鏡偏(pian)差
檢(jian)具(ju):十字(zi)分(fen)劃(hua)板(ban)。
檢測(ce)方法(fa):在顯微鏡上用10倍物鏡和被(bei)檢(jian)十(shi)字分(fen)劃(hua)目(mu)鏡對置於(yu)載(zai)物(wu)臺(tai)上(shang)的(de)十字(zi)分(fen)劃(hua)板(ban)調焦清晰(xi)，並使(shi)十(shi)字(zi)分(fen)劃(hua)板(ban)中心(xin)的(de)像與十(shi)字分(fen)劃(hua)板(ban)目鏡(jing)重合(he)，然(ran)後旋(xuan)轉(zhuan)十字(zi)分(fen)劃(hua)目(mu)鏡，以兩十(shi)字(zi)線(xian)中心(xin)的(de)大偏移作為(wei)檢(jian)測(ce)值。
技術要(yao)求(qiu):十(shi)字(zi)分(fen)劃(hua)目(mu)鏡的(de)十字(zi)線(xian)中心(xin)應(ying)與目(mu)鏡升(sheng)圓(yuan)軸線(xian)重合(he)，其(qi)偏差為(wei)0.01mm。
顯像部分(fen)出現(xian)的(de)問題比(bi)較嚴重(zhong)。
1、光(guang)學(xue)系(xi)統
(1)視場模糊或(huo)視場壹(yi)樣不(bu)清晰(xi)。
(2)像發閃爍(shuo)，反(fan)差不(bu)好。
(3)轉(zhuan)換物(wu)鏡時(shi)不(bu)到(dao)同焦。
(4)即使(shi)用(yong)高(gao)電(dian)壓(ya)，視場也難(nan)以鮮明(ming)。
2 、粗、微調部
(1)粗調控制(zhi)鈕(niu)旋(xuan)轉(zhuan)時(shi)發(fa)重。
(2)由(you)於(yu)載(zai)物(wu)臺(tai)自(zi)然下(xia)降或(huo)粗調的(de)滑動(dong)使(shi)觀察中的(de)焦點(dian)離(li)開。
3、雙目鏡(jing)筒 雙目(mu)鏡筒的(de)視場不(bu)*。
以上(shang)問題很(hen)容(rong)易(yi)校(xiao)正過(guo)來，基(ji)本(ben)準(zhun)確可靠(kao)。