壹(yi)、產品介(jie)紹(shao)
JB4040型(xing) β、γ檢(jian)測(ce)儀，適用於(yu)低水平(ping)β、γ輻射(she)表面(mian)汙(wu)染檢(jian)測(ce)，同時(shi)也適用與(yu)X、γ輻射(she)劑(ji)量(liang)率的(de)監(jian)測(ce)。儀(yi)器(qi)采(cai)用進口蓋(gai)革探測器(qi)，具(ju)有(you)較(jiao)高的(de)探測效(xiao)率；是(shi)環(huan)境(jing)實(shi)驗室(shi)、核醫(yi)學、分(fen)子(zi)生(sheng)物(wu)學、放射(she)化(hua)學(xue)、核原料運輸(shu)、儲存(cun)和(he)商檢等(deng)領域進行β輻射(she)表面(mian)汙(wu)染檢(jian)測(ce)或X，γ輻射(she)防護監(jian)測(ce)的(de)理(li)想儀器(qi)，該儀(yi)器(qi)采用(yong)單片機控制，LCD液(ye)晶(jing)顯示(shi)，讀(du)數清晰(xi)、操作方(fang)便(bian)。智能(neng)化(hua)β、γ表(biao)面(mian)汙(wu)染檢(jian)測(ce)儀JB4040承諾守(shou)信(xin)
二(er)、產品參(can)數
1、計數(shu)範(fan)圍(wei)：1～106 
2、探測器(qi)面(mian)積(ji)：25cm2
3、靈(ling) 敏 度(du)：≥500 CPM/μSv/h
4、劑(ji)量(liang)率範圍(wei)：0.01～200.00µSv/h
5、儀(yi)器(qi)本(ben)底(di)：每(mei)分(fen)鐘(zhong)計數(shu)≤130 CPM
6、相對誤(wu)差：測量(liang)範圍(wei)內(nei)相對基(ji)本(ben)誤(wu)差≤20%
7、供電電(dian)源：2節1.5v普通5號(hao)電池(chi)，整(zheng)機(ji)電流≤50mA
8、溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei)：-10℃～45℃
9、濕度(du)範(fan)圍(wei)：相對濕度(du)≤90%（40℃）
10、尺(chi)寸(cun)重(zhong)量(liang)：0.64kg;23×13×4.5（cm）
三(san)、產品特(te)點
1、GM探測器(qi)陣(zhen)列，探測效(xiao)率高
2、便(bian)攜式(shi)設計，重(zhong)量(liang)輕(qing)
3、單片機控制，軟(ruan)件功(gong)能(neng)強
4、LCD液(ye)晶(jing)顯示(shi)，會(hui)話式(shi)操作界面(mian)智能(neng)化(hua)β、γ表(biao)面(mian)汙(wu)染檢(jian)測(ce)儀JB4040承諾守(shou)信(xin)
5、計數(shu)率顯示(shi)CPM、CPS、μSv/h
6、電(dian)池(chi)失(shi)效(xiao)報(bao)警